|
@@ -334,7 +334,7 @@ NA=0.95). Для регистрации излучения использова
|
|
|
что в такой геометрии оптическое излучение частично поглощается и
|
|
|
отражается при прохождении через образец. Для определения оптических
|
|
|
\KL{и геометрических} параметров исследуемых образцов были измерены
|
|
|
-спектры оптического пропускания (рис.~\ref{risTransmission}).
|
|
|
+спектры оптического пропускания (рис.~\ref{risTransmission}a).
|
|
|
\KL{Серые зашумлённые линии соответствуют экспериментальным данным, поверх них наложены более гладкие черные линии, полученные в расчёте
|
|
|
методом матриц переноса (a правда им?). В этом расчёте для каждого
|
|
|
образца использовалось два подгоночных параметра: толщины подслоя
|
|
@@ -369,7 +369,7 @@ NA=0.95). Для регистрации излучения использова
|
|
|
фотонов из туннельного контакта. Интенсивность зарегистрированного
|
|
|
излучения туннельного контакта нормировалась на коэффициент
|
|
|
пропускания излучения на длине волны 740 нм
|
|
|
-(см. рис.~\ref{risTransmission}). Данная длина волны была выбрана в
|
|
|
+(см. рис.~\ref{risTransmission}a). Данная длина волны была выбрана в
|
|
|
качестве референсной, основываясь на литературных данных об спектрах
|
|
|
излучения фотонов из туннельного контакта под острием СТМ для схожих
|
|
|
конфигураций эксперимента ~\cite{parzefall2017antenna}.
|
|
@@ -475,10 +475,10 @@ SC$^a$ & - & 300 &$\rightarrow\!\infty$ & $\rightarrow\! 0$& $\rightarrow \! \i
|
|
|
W. Kettlitz, and Uli Lemmer, "Efficient evaluation of Sommerfeld
|
|
|
integrals for the optical simulation of many scattering particles in
|
|
|
planarly layered media," J. Opt. Soc. Am. A 33, 698-706
|
|
|
-(2016)]. Результаты моделирования методом FDTD приводятся на Рис.~XX,
|
|
|
-они хорошо совпали как с результатами моделирования методом T-матриц,
|
|
|
-так и результатами полученными методом матриц переноса на
|
|
|
-Рис.~\ref{risTransmission}.
|
|
|
+(2016)]. Результаты моделирования методом FDTD приводятся на
|
|
|
+Рис.~\ref{risTransmission}b, они хорошо совпали как с результатами
|
|
|
+моделирования методом T-матриц, так и результатами полученными методом
|
|
|
+матриц переноса на Рис.~\ref{risTransmission}a.
|
|
|
|
|
|
В обоих методах диполь был расположен на расстоянии в 10~нм от
|
|
|
поверхности золота, что значительно больше величины туннельного
|
|
@@ -522,7 +522,7 @@ planarly layered media," J. Opt. Soc. Am. A 33, 698-706
|
|
|
что близкие результаты были получены несмотря на то, что в методе
|
|
|
FDTD расчёт потока энергии вёлся в ближнем поле интегрированием по
|
|
|
части плоскости, перекрывающей заданную апертуру, а в методе Т-матриц
|
|
|
-интегрирование велось по углу в дальнем поле.
|
|
|
+интегрирование велось по углу в дальнем поле.
|
|
|
|
|
|
Интерес представляет хорошее соответствие между результатом
|
|
|
прохождения излучения диполя, расположенного вблизи поверхности, и
|
|
@@ -535,6 +535,19 @@ FDTD расчёт потока энергии вёлся в ближнем по
|
|
|
от диполя к объективу. В результате использованная нормировка на
|
|
|
спектры пропускания оказывается достаточно корректной.
|
|
|
|
|
|
+Дополнительно с помощью метода FDTD было промоделировано влияние СТМ зонда
|
|
|
+на спектры пропускания для случая дипольного источника. Относительное
|
|
|
+значение пропускания для всех образцов практически не
|
|
|
+изменилось; приблизительно в 5 раз выросло абсолютное значение. Надо
|
|
|
+отметить, что на Рис.~\ref{risTransmission}b поток энергии нормирован на общую
|
|
|
+излучаемую энергию этим же дипольным источником, как если бы тот находился
|
|
|
+в вакууме. Поэтому увеличение значения фактора Парсела, вызванное
|
|
|
+появлением вблизи от диполя ещё одной золотой поверхности,
|
|
|
+естественным образом приводит к увеличению отображаемого значения.
|
|
|
+
|
|
|
+
|
|
|
+Моделирование с зондом и дипольным истоником также было
|
|
|
+
|
|
|
Еще немного текста про сравнение сбора в бок для 5ого образца и
|
|
|
объёмного золота, про закрытие канала вниз. Надо вначале пересчитать
|
|
|
на новых моделях.
|