浏览代码

Update on Overleaf.

Vitaliy 6 年之前
父节点
当前提交
ca0bc9cb9e
共有 2 个文件被更改,包括 35 次插入3 次删除
  1. 32 0
      STM-Electroluminescence.bib
  2. 3 3
      main.tex

+ 32 - 0
STM-Electroluminescence.bib

@@ -1,5 +1,37 @@
 % Encoding: UTF-8
 
+@article{krylov1985electron,
+  title={Electron tunneling through layers with statistically rough surfaces},
+  author={Krylov, MV and Suris, A},
+  journal={Zh. Eksp. Teor. Fiz},
+  volume={88},
+  pages={2204--221},
+  year={1985}
+}
+
+
+@article{harrison1961tunneling,
+  title={Tunneling from an independent-particle point of view},
+  author={Harrison, Walter A},
+  journal={Physical Review},
+  volume={123},
+  number={1},
+  pages={85},
+  year={1961},
+  publisher={APS}
+}
+
+
+@incollection{purcell1995spontaneous,
+  title={Spontaneous emission probabilities at radio frequencies},
+  author={Purcell, Edward Mills},
+  booktitle={Confined Electrons and Photons},
+  pages={839--839},
+  year={1995},
+  publisher={Springer}
+}
+
+
 @article{olmon2012optical,
   title={Optical dielectric function of gold},
   author={Olmon, Robert L and Slovick, Brian and Johnson, Timothy W and Shelton, David and Oh, Sang-Hyun and Boreman, Glenn D and Raschke, Markus B},

+ 3 - 3
main.tex

@@ -543,7 +543,7 @@ FDTD расчёт потока энергии вёлся в ближнем по
 приведённых параметров основным отличием является}} диаметр зёрен золота для образцов отличается чуть более, чем в два раза. И при этом, интенсивность излучения для образцов
 отличается в $\sim$37 раз.
 
-Основным эффектом, определяющим интенсивность эмиссии фотонов, является протекание туннельного тока. При этом регистрируемое изменение от образца к образцу может быть связано как с изменением самого тока, так и с различной эффективностью вывода излучения из туннельного зазора \commentA{(фактором Парселла) [Purcell E. M. Spontaneous emission probabilities at radio frequencies //Confined Electrons and Photons. – Springer, Boston, MA, 1995. – С. 839-839]}. 
+Основным эффектом, определяющим интенсивность эмиссии фотонов, является протекание туннельного тока. При этом регистрируемое изменение от образца к образцу может быть связано как с изменением самого тока, так и с различной эффективностью вывода излучения из туннельного зазора \commentA{(фактором Парселла) \cite{purcell1995spontaneous}}. 
 
 Численное моделирование, результаты которого представлены выше, позволяет утверждать следующее:
 \begin{itemize}
@@ -568,9 +568,9 @@ FDTD расчёт потока энергии вёлся в ближнем по
 \commentA{
 Как известно, величина \comment {плотности} туннельного тока экспоненциально зависит от величины туннельного зазора, причем в показателе экспоненты стоит длина затухания волновой функции электрона в изолятор:
 $\kappa^{-1} = [2m(eV_b-\varepsilon_{F})]^{-1/2}$
-[Harrison W. A. Tunneling from an independent-particle point of view //Physical Review. – 1961. – Т. 123. – №. 1. – С. 85.]. Здесь $m$ -- масса электрона, $\varepsilon_{F}$ -- энергия Ферми электрона в проводнике. При этом максимальный ток достигается в случае нулевого зазора, то есть при коротком замыкании. 
+\cite{harrison1961tunneling}. Здесь $m$ -- масса электрона, $\varepsilon_{F}$ -- энергия Ферми электрона в проводнике. При этом максимальный ток достигается в случае нулевого зазора, то есть при коротком замыкании. 
 
-В работе [Krylov M. V., Suris A. Electron tunneling through layers with statistically rough surfaces //Zh. Eksp. Teor. Fiz. – 1985. – Т. 88. – С. 2204-221.] показано, что туннельный ток (равно как и ток короткого замыкания) между двумя металлическими поверхностями прямо пропорционален площади эффективного контакта $S$. В случае, когда одна из поверхностей имеет вид островковой пленки с характерными высотой островка $a$ и полушириной $b$ оказывается, что $S \propto (b / \kappa a)^2 = (\kappa A)^{-2}$, где $A=a / b$ - аспектное отношение островка пленки золота. 
+В работе \cite{krylov1985electron} показано, что туннельный ток (равно как и ток короткого замыкания) между двумя металлическими поверхностями прямо пропорционален площади эффективного контакта $S$. В случае, когда одна из поверхностей имеет вид островковой пленки с характерными высотой островка $a$ и полушириной $b$ оказывается, что $S \propto (b / \kappa a)^2 = (\kappa A)^{-2}$, где $A=a / b$ - аспектное отношение островка пленки золота. 
 
 На Рис.~\ref{risIslands} на примере образцов №2, №3 и №5 схематично показано, что эффективная площадь контакта растет как с уменьшением высоты островка ($\kappa a$), так и с увеличением его диаметра $b$. Следует отметить, что такая модель вполне корректна, пока размеры островков достаточно малы в сравнении с радиусом зонда. В случае же, когда поверхность становится гладкой (как в случае образца кристаллического золота), доминирующий вклад в площадь контакта привносит форма самого зонда.