asd

main.tex

@@ -39,6 +39,7 @@
 \newcommand{\commentC}[1]{ {\color{green} #1}} % AB - Alexey Bolshakov
 \newcommand{\commentD}[1]{ {\color{magenta} #1}} % DP - Dmitry Permyakov
 \newcommand{\KL}[1]{ {\color{orange} #1}} % KL - Konstantin Ladutenko
+\newcommand{\commentA}[1]{ {\color{brown}  #1}} % Anton Samusev
 % \newcolumntype{P}[1]{>{\centering\arraybackslash}p{#1}}
 % \newcolumntype{M}[1]{>{\centering\arraybackslash}m{#1}}
 
@@ -61,13 +62,12 @@
 % author(s) ( + e-mail)
 \author{%
   В.\,А.\,Школдин$^{a, b}$ \thanks{e-mail: shkoldin@spbau.ru},
-  Д.\,В.\,Пермяков$^{b}$ \thanks{e-mail: d.permyakov@metalab.ifmo.ru},
-  К.\,С.\, Ладутенко$^{b}$,
-  М.\,В.\,Жуков$^{b,c}$,
-  А.\,А.\,Васильев$^{a}$,
-  Т.\,А.\,Мамаева$^{d}$,
-  А.\,О.\,Голубок$^{b,c}$,
-  А.\,В.\,Усков$^{b,e}$,
+  Д.\,В.\,Пермяков$^{a}$ \thanks{e-mail: d.permyakov@metalab.ifmo.ru},
+  К.\,С.\, Ладутенко$^{a}$,
+  М.\,В.\,Жуков$^{a,c}$,
+  А.\,А.\,Васильев$^{b}$,
+  А.\,О.\,Голубок$^{a,c}$,
+  А.\,В.\,Усков$^{a,d}$,
   А.\,Д.\,Большаков$^{a}$,
   А.\,А.\, Богданов$^{b}$,
   A.\, Bouhelier$^{f}$
@@ -84,12 +84,11 @@
 
 %%% author's address(es)
 \address{%
-$^a$ Санкт-Петербургский Академический университет РАН, 194021, Санкт-Петербург, Россия\\
-$^b$ Университет ИТМО, 199034, Санкт-Петербург, Россия\\
+$^a$ Университет ИТМО, 199034, Санкт-Петербург, Россия\\
+$^b$ Санкт-Петербургский Академический университет РАН, 194021, Санкт-Петербург, Россия\\
 $^c$ Институт аналитического приборостроения РАН, 198095, Санкт-Петербург, Россия\\
-$^d$ Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, 195251, Санкт-Петербург\\
-$^e$ Физический институт им.~П.Н. Лебедева РАН, 119991, Москва, Россия\\
-$^f$ Université Bourgogne Franche-Comté
+$^d$ Физический институт им.~П.Н. Лебедева РАН, 119991, Москва, Россия\\
+$^e$ Université Bourgogne Franche-Comté
 }
 
 %%% dates of submition & resubmition (if submitted once, second argument is *)
@@ -210,8 +209,8 @@ $^f$ Université Bourgogne Franche-Comté
 СТМ и тонкой золотой пленкой, нанесенной на поверхность стеклянной
 подложки. Зонд изготавливался из вольфрамовой проволоки диаметром
 150~мкм методом электрохимического травления в растворе гидроксида
-калия, после чего на него термически напылялся слой золота c толщиной
-порядка 30~нм и подслоем хрома для усиления адгезии. Острота зондов
+калия, после чего на него термически напылялся слой золота толщиной
+$\sim$30~нм c подслоем хрома для усиления адгезии. Острота зондов
 диагностировалось методом сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), и
 радиус закругления составлял около 100~нм.
 
@@ -257,7 +256,7 @@ NA=0.95). Для регистрации излучения использова
 говоря, спектр излучения фотонов зависит от многих параметров,
 например, используемых материалов берегов туннельного контакта и
 приложенного напряжения смещения~\cite{berndt1991inelastic}. Наиболее
-вероятным является одночастичный процесс, в котором энергия фотона
+вероятным является одночастичный \KL{неупругий(? Есть ли оценка для доли упругого туннелирования?)} процесс, в котором энергия фотона
 ограничена напряжением смещения $\hbar\nu_o = |eV|$, где $\nu_o$ -
 частота отсечки~\cite{lambe1976light}. Соответственно, для эмиссии
 фотонов в видимом диапазоне к контактам необходимо приложить
@@ -296,23 +295,23 @@ NA=0.95). Для регистрации излучения использова
 отрицательно влияет на стабильность туннельного
 контакта~\cite{rogez2016mechanism}.
 
-Стабильность тока туннельного контакта поддерживается следящей
+Стабильность \KL{общего} тока \KL{\sout{туннельного контакта}} поддерживается следящей
 системой с отрицательной обратной связью (ОС). Следящая система
 микроскопа управляет сканером по оси Z, поддерживая расстояние между
-зондом и поверхностью образца таким образом, чтобы величина
-туннельного тока была постоянной. По характеру работы СТМ с ОС на
+зондом и поверхностью образца таким образом, чтобы величина \KL{\sout{
+туннельного} общего} тока была постоянной. По характеру работы СТМ с ОС на
 воздухе при высоких напряжениях смещения, можно выделить три режима
-работы СТМ~\cite{rogez2016mechanism}: режим "стабильного тока", "не
-стабильного тока", при котором наблюдаются редкие всплески туннельного
-тока, и режим "насыщения", в котором ОС возбуждена. В последнем
+работы СТМ~\cite{rogez2016mechanism}: режим <<стабильного тока>>, режим <<не
+стабильного тока>>, при котором наблюдаются редкие всплески туннельного
+тока, и режим <<насыщения>>, в котором ОС возбуждена. В последнем
 режиме, сканер быстро подводит образец к зонду, возникает большой
-туннельный ток, и ОС сразу же разрывает контакт. Таким образом,
+\KL{\sout{туннельный}} ток, \KL{протекающий через зонд}, и ОС сразу же разрывает контакт. Таким образом,
 возникают осцилляции в относительном положении между зондом и
-образцом, и как следствие, осцилляции туннельного тока при постоянном
+образцом, и как следствие, осцилляции \KL{\sout{туннельного} общего} тока при постоянном
 значении интегрального тока между образцом и зондом. Именно в режиме
 "насыщения" наблюдается максимальная эффективность эмиссии
 фотонов~\cite{rogez2016mechanism}. В наших экспериментах значение
-интегрального тока составляло 165 нА, при приложенном напряжении
+интегрального тока составляло 165~нА, при приложенном напряжении
 смещения 2,2~В.
 
 Предварительно поверхность каждого образца исследовалась методами
@@ -568,20 +567,19 @@ FDTD расчёт потока энергии вёлся в ближнем по
 
 Особенно интересно сравнивать между собой образцы №3 и №5. Они
 обладают очень похожей средней толщиной золотого покрытия, а из
-приведённых параметров больше всего отличается диаметер зёрен золота,
+приведённых параметров больше всего отличается диаметр зёрен золота,
 чуть более чем в два раза. В тоже время, интенсивность излучения
-отличается $\sim$37 раз. Ещё интереснее сравнивать излучшение образца
-№5 и образа из кристаллического золота. Последний по сути является
-единым зерном золота (в масштабах тунельного зазора) бесконечного
-размера и нулевой шероховатости. Но эффект излучечния 
+отличается в $\sim$37 раз. Таким образом, для объяснения столь существенного изменения интенсивности вероятно требуется привлечение каких-то эффектов, экспоненциальным образом зависящих от параметров образов.
+
+
 
 
 }
 
-\KL{По разговору с Антоном: туннельнй ток ограничен током короткого
-  замыкания, который в свою очердь пропорционален площади
-  контакта. Уменшение размера зерён увеличивает общую протяжённость
-  границы, т.е. уменьшает площать контакта. Но это, вероятно, линейный
+\KL{По разговору с Антоном: туннельный ток ограничен током короткого
+  замыкания, который в свою очередь пропорционален площади
+  контакта. Уменьшение размера зёрен увеличивает общую протяжённость
+  границы, т.е. уменьшает площадь контакта. Но это, вероятно, линейный
   эффект и не столь важно. А вот увеличение шероховатости также
   уменьшает площадь контакта, но это уже значительно серьезнее. Дело в
   том что после того, как зонд воткнулся в частицу, общая площадь